博微半导体分立器件光耦测试系统-双功能版BW-3010B

BW-3010B
 

晶体管光耦参数测试仪（双功能版）

品牌： 博微电通

名称：晶体管光耦参数测试仪(光耦&光电传感器双功能版)

型号： BW-3010B

用途： BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。                                                                      

BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器和光电传感器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试，BW-3010B为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降（VF）和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等 。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中，测试条件可以任意设置，测试正向压降和输出电流可达1A，操作简便，实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。

产品电气参数：

产品信息

产品型号：BW-3022A

产品名称：晶体管光耦参数测试仪；

物理规格

主机尺寸：深 305*宽 280*高 120(mm)

主机重量：＜4.5Kg

主机颜色：白色系

电气环境

主机功耗：＜75W

环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；

相对湿度：≯85%；

大气压力：86Kpa～106Kpa；

防护条件：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等；

电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；

工作时间：连续；

服务领域：

     应用场景：

    ▶选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）

    ▶检验筛选（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）

    产品特点：

    ▶大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单

    ▶大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数.

    ▶全部可编程的DUT恒流源和电压源.

    ▶内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路.

    ▶高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1500V；

    ▶重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题；

    ▶软件自校准功能；

    ▶自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试；

    ▶DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型，显示测试结果是否合格,并有声光提示；

    ▶两种工作模式：手动、自动测试模式。

         BW-3010B主机和DUT的管脚对应关系

                                               

BW-3010B测试技术指标：

1、光电传感器指标:

输入正向压降(VF)

反向电流(Ir)

集电极电流(Ic)

输出导通压降(VCE(sat))

输出漏电流(Iceo)

2、光电耦合器：

耐压(VCEO)测试指标

输入正向压降(VF)

反向漏电流(ICEO)

反向漏电流(IR)

电流传输比(CTR)

输出导通压降(VCE(sat))

可分档位总数：10档

       BW-3010B测试定义与规范：

AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极.

VF:IF: 表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流.

Vce:Bv:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.

Vce:Ir: 表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.

CTR:IF:表示测试光耦传输比时输入端的测试电流。

CTR:Vce:表示测试光耦传输比时输出端的测试电压。

Vsat:IF:表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流。

Vsat:Ic:表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流。