• 博微集成电路高温寿命试验系统BW-ICHTOL-2200

    详细信息

     品牌:博微  型号:BW-ICHTOL-2200   
    BW-ICHTOL-2200
    集成电路高温寿命试验系统
    适用于各种封装形式的模拟电路、数模混合电路、光电藕合器、LDO、Buck 电路等器件的高温工作寿 命试验。
    试验线路和试验方法符合 AEC-Q100、GJB548 等相关标准的要求
    系统平均运行无故障时间≥10000 小时。
    *大工位:80 工位/每通道×16 通道=1280 颗
    详细产品资料请询问厂家索取。
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