- 博微高温栅偏实验系统BW-HTGB-C16
详细信息
品牌：博微 型号：BW-HTGB-C16 BW-HTGB-C16
半导体高温栅偏实验系统■适用于各种封装的 IGBT/MOS 模块高温栅偏试验
■试验线路及试验方法满足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相关标准要求
■80 颗/每通道×16 通道＝1280 颗(满载实验数量)
■系统平均无问题运行时间≥10000 小时
技术特点 Technical characteristics
■将被测量元件放置在一定的环境温度中，给被测元件的栅极施加一定的偏置电压。同时测控系统实时检 测每个材料的漏电流、电压，并根据预先设定，当被测材料实时漏电流超过设定值时，自动切断被测材料上的电压，可以保护被测元件不会进一步烧坏
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陕西博微电通科技有限责任公司
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博微高温栅偏实验系统BW-HTGB-C16
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- 品 牌：博微
- 所 在 地：陕西西安
- 更新日期：2024-09-13
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