• 博微高温反偏实验系统BW-HTRB-C16

    详细信息

     品牌:博微  型号:BW-HTRB-C16   
    BW-HTRB-C16
    半导体高温反偏实验系统
     
    适用于 SI/SIC/GaN 芯片的各种封装类型的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT、IPM、桥堆等
    半导体器件进行高温反偏试验。
    符合标准
    试验线路及试验方法满足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相关标准要求。
    系统平均运行无故障时间≥10000 小时。
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